- 温度冲击仓
- 温度冲击仓
一、温度冲击仓用途：
适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.
二、温度冲击仓满足标准：
1. GB10589-89 低温试验箱技术条件
2. GB11158-89 高温试验箱技术条件
3. GB10592-89 高低温试验箱技术条件
4. GB2423.1 低温试验、试验A
5. GB2423.2 高温试验、试验B
6. GB2423.22 温度变化试验、试验N
7. IEC68-2-14 试验N8. 国军标GJB150.3-86
9. 国军标GJB150.4-8610.GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法
11.GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法
三、温度冲击仓特性：
◆ 产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能
和可靠的设备性能。
◆ 设备分为高温箱低温箱测试箱三部分，采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，
试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷，热温度导入测试区实
现冷热冲击测试目的。
◆ 采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人
机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠，中、英文显示完整的系统操
作状况、执行及设定程序曲线。
◆ 具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设
定, 可实现制冷机自动运转，zui大程度上实现自动化，减轻操作人员工作
量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行；
◆ 箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。
◆ 可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击
条件时,可选择三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功
能。
◆ 具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部
采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高
◆ 先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角完备的安全
保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性。
◆ 可设定循环次数及除霜次数自动（手动） 除霜.
◆ 出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为５秒内完成，冷热冲
击温度恢复时间为5分钟内完成。
◆ 运转中状态显示及曲线显示发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原
因和提供排除故障的方法。
◆ 冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美进口压缩
机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保HFC）制冷剂R404A，R23.
四、温度冲击仓控制方式与特色:
利用低温及高温蓄冷热储存槽，依动作需要打开DAPER，达到快速冲击效果；平衡调温控制系统(BTC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定使用。
五、技术参数：1、 温度范围：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃
2、 温度上限：+170℃
3、 温度下限：-70℃
4、 温度偏差：±2℃
5、 温度波动度：±0.5℃
6、 温度恢复时间：5min
7、 温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min低温-40℃保温≥30min.
8、 试品转移方式：采用气动
9、试品重量：≤3kg
10、高温室升温时间：30min (+25℃～+170℃)
11、低温室降温时间：65min (+25℃～-55℃)
12、噪音：（dB）≤65
13、电源：AC380V±10％/50/60Hz+保护接地
14、总功率：13KW
六、温度冲击仓型号及内箱尺寸（W宽XH高X深D）
ZT-30A-S W宽300XH高350XD深300mm
ZT-50A-S W宽350XH高400XD深350mm
ZT-80A-S W宽400XH高500XD深400mmZT-150A-S W宽500XH高600XD深500mm
ZT-252A-S W宽600XH高700XD深600mm