- ZT低温测试仓
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ZT低温测试仓适用范围:
国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电子、电器零组件,塑料、化工业,食品
业,制药工业及相关产品之耐寒、耐干性能及研发,质量管理工程之试验规范。
ZT低温测试仓满足标准:GB/T2423.1~2《电工电子产品的基本环境试验规程试验。A:
低温试验方法》.
执行与满足标准:
1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件;
2.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
3.GB2423.1低温试验、试验A
4.GB/T2423.34-2005低、温度循环试验。
规格型号及技术参数:
ZT-CTH-80B, ZT-CTH-120B
ZT-CTH-150B, ZT-CTH-225B
ZT-CTH-306B, ZT-CTH-408B
ZT-CTH-800B, ZT-CTH-1000B
1.温度范围 :常温RT~0℃/-20℃/-40℃/-50℃/-60℃/-70℃/-86℃。2.控制稳定度 :±0.5℃
3.分布均匀度 :±1.0℃
4.温度偏差: ≤±2℃
5.正常降温时间: +20~0℃小于20分钟
+20~-20℃小于45分钟
+20~-40℃小于60分钟
+20~-50℃小于70分钟
+20~-60℃小于75分钟
+20~-70℃小于80分钟
+20~-86℃小于100分钟
工作内尺寸:
ZT-CTH-50B W宽35XH高40XD深35cm
ZT-CTH-80B W宽40XH高50XD深40cm
ZT-CTH-120B W宽50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150B W宽50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225B W宽60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306B W宽60XH高85XD深60cm
ZT-CTH-408B W宽60XH高85XD深80cm
ZT-CTH-800B W宽100XH高100XD深80cm
ZT-CTH-1000B W宽100XH高100XD深100cm
控制器:
采用加拿大“RUERSI”进口微电脑液晶显示薄膜按键型,英文表示温度可程控器,具
10组程序100段次记忆,每段 99Hour59Min,每段可循环999次,可任意分割设定,并附多
组PID控制功能。